Tổng quan
Frequency 10Hz-2MHz
Parameter Ciss, Coss, Crss, Rg
Vgs Range 0- +/-40V
Vds Range 0-1500V
Channels 2 – 6
Đặc trưng
• Màn hình cảm ứng điện dung 10,1 inch, độ phân giải 1280*800, hệ thống Linux
• Kiến trúc CPU kép, tốc độ kiểm tra chức năng LCR nhanh nhất là 0,56 mili giây
• Ba phương pháp kiểm tra: kiểm tra tại chỗ, quét danh sách và quét đồ họa (tùy chọn)
• Bốn thông số ký sinh (Ciss, Coss, Crss, Rg) được đo và hiển thị trên cùng một màn hình
• Quét đường cong CV, quét đường cong Ciss-Rg
• Thiết kế tích hợp: Nguồn hạ thế LCR + VGS + Nguồn cao thế VDS + chuyển kênh + PC
• Kiểm tra 2 kênh tiêu chuẩn, có thể kiểm tra đồng thời hai thiết bị hoặc thiết bị chip kép, kênh có thể mở rộng thành 6, thông số kênh được lưu trữ riêng
• Sạc nhanh, rút ngắn thời gian sạc tụ và cho phép đo nhanh
• Cài đặt độ trễ tự động
• Độ lệch cao: VGS: 0 – ±40V, VDS: 0 – 200V/1500V/3000V
• Phân loại 10 sorting
Các ứng dụng
• Linh kiện bán dẫn/ Linh kiện nguồn
Kiểm tra điện dung ký sinh và phân tích đặc tính C-V của điốt, triode, MOSFET, IGBT, thyristor, mạch tích hợp, chip quang điện tử, v.v.
• Vật liệu bán dẫn
Wafer, phân tích đặc tính C-V
• Chất liệu tinh thể lỏng
Phân tích hằng số đàn hồi
• Phần tử điện dung
Kiểm tra và phân tích đặc tính C-V của tụ điện, kiểm tra và phân tích cảm biến điện dung
Specifications
| Model | TH511 | TH512 | TH513 | ||||
| Channel | 2 (4/6 Ch Optional) | 2 | |||||
| Display | Display | 10.1-inch capacitive touchscreen | |||||
| Ratio | 0.672916667 | ||||||
| Resolution | 1280*RGB*800 | ||||||
| Test Parameter | Ciss, Coss, Crss, Rg. Four parameter selectable arbitrarily | ||||||
| Test Frequency | Range | 1kHz-2MHz | |||||
| Accuracy | 0.0001 | ||||||
| Resolution | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | ||||||
| 100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | |||||||
| 1Hz 100.000kHz-999.999kHz | |||||||
| 10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | |||||||
| Test Level | Voltage Range | 5mVrms-2Vrms | |||||
| Accuracy | ± (10%*Setting Value+2mV) | ||||||
| Resolution | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | ||||||
| 10mVrms 1Vrms-2Vrms | |||||||
| Vgs | Range | 0 – ±40V | |||||
| Accuracy | 1%* Setting Voltage+8mV | ||||||
| Resolution | 1mV 0V – ±10V | ||||||
| 10mV ±10V – ±40V | |||||||
| Vds | Range | 0 – 200V | 0 – 1500V | 0 – 3000V | |||
| Accuracy | 1%* Setting Voltage+100mV | ||||||
| Output Impedance | 100Ω, ±2%@1kHz | ||||||
| Computation | Absolute deviation Δ from nominal value, percent deviation from nominal value Δ% | ||||||
| Calibration Function | OPEN, SHORT, LOAD | ||||||
| Measure Average | 1-255 times | ||||||
| AD Conversion Time (ms/time) | Fast+: 0.56ms (＞5kHz), Fast: 3.3ms, Middle: 90ms, Slow: 220ms. | ||||||
| Basic Accuracy | 0.001 | ||||||
| Ciss, Coss, Crss | 0.00001pF – 9.99999F | ||||||
| Rg | 0.001mΩ – 99.9999MΩ | ||||||
| Δ% | ±（0.000% – 999.9%） | ||||||
| Multi-Function Parameter List Scan | Spots | 20 spots, the average number can be set for each spot, and each spot can be sorted separately | |||||
| Parameter | Test Frequency, Vg, Vd, Channel | ||||||
| Trigger Mode | Sequence SEQ: After one trigger, measure at all sweep points, /EOM/INDEX output only once. Step: perform a sweep point measurement per trigger, each point outputs /EOM/INDEX, but the list scan comparator result is only output at the last /EOM |
||||||
| Graphic Scan | Scanning Spots | Any Spot is optional, up to 1001 Spots | |||||
| Result Display | Multiple curves with the same parameter and different Vg; multiple curves with the same Vg and different parameters. |
||||||
| Display Range | Real-time automatic, locked | ||||||
| Coordinate ruler | Logarithmic, linear | ||||||
| Parameter | Vg, Vd | ||||||
| Trigger Mode | Single | Manual trigger once, complete one scan from the start spot to the end spot, and start a new scan with the next trigger signal | |||||
| Continuous | Infinite loop scan from the start spot to the end spot | ||||||
| Result Storage | Graphics, files | ||||||
| Comparators | Bin | 10Bin, PASS, FAIL | |||||
| Bin Deviation Setting | Deviation, Percent Deviation, Off | ||||||
| Bin Mode | Tolerance, continuous | ||||||
| Bin Count | 0-99999 | ||||||
| Bin Judgement | A maximum of four parameter limit ranges can be set for each bin. The corresponding bin number will be displayed within the setting range of the four test parameter results. If it exceeds the set maximum bin number range, FAIL will be displayed. Test parameters without upper and lower limits will be automatically ignored. | ||||||
| PASS/FAIL indication | Satisfy Bin1-10, the PASS light on the front panel is on, otherwise the FAIL light is on. | ||||||
| Data Storage | 201 measurement results can be read in batches | ||||||
| Storage File | Internal | About 100M non-volatile memory test setup file | |||||
| External USB | Test setup files, screenshots, log files | ||||||
| Keyboard Lock | Lockable front panel buttons, other functions to be expanded | ||||||
| Interface | USB HOST | 2 USB HOST interfaces, which can be connected to the mouse and keyboard at the same time, and only one U disk can be used at the same time | |||||
| USB DEVICE | Universal Serial Bus socket, small type B (4 contact positions); compliant with USB TMC-USB488 and USB2.0, female connector for connecting external controllers. | ||||||
| LAN | 10/100M Ethernet, 8 pins, two speed options | ||||||
| HANDLER | Used for Bin signal output | ||||||
| RS232C | Standard 9-pin, crossed | ||||||
| RS485 | Can receive modification or external RS232 to RS485 module | ||||||
| Boot Warm-up Time | 60 Minutes | ||||||
| Input voltage | 100-120VAC/198-242VAC Option, 47-63Hz | ||||||
| Power consumption | More than 130VA | ||||||
| Dimensions (W*H*D) mm | 430*177*405 | ||||||
| Weight | 12kg | ||||||
Accessary
| Standard | ||||||
| Accessories name | Model | |||||
| Test Fixture | TH26063B |  |
||||
| Test Fixture | TH26063C |  |
||||
| TH510 fixture control connection cable | TH26063D |  |
||||
| TH510 Test Extension Cable | TH26063G |  |
||||
Reviews
There are no reviews yet.